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x射线光电子能谱分析的基本原理

2024年5月20日  PHI， X 射线光电子能谱XPS是材料科学和发展的领域中最广泛使用的表面分析技术escalab 250xi x射线光电子能谱仪 thermo fisher。

X射线光电子能谱技术XPS是电子材料 与元器件显微分析中的一种先进分析技术，而且是和俄歇电子能谱技术AES常常配合使用的分析技术由于它可以比俄歇电子能谱技术更准确地测量原子的内层电子束缚能及其化学位移，所以它不但为化学研究提供分子结 详情简介 发展简史 基本原理 XPS特点 全部。